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低壓計(jì)量箱門(mén)開(kāi)關(guān)測(cè)試儀
低壓計(jì)量箱門(mén)開(kāi)關(guān)測(cè)試儀是一款能滿(mǎn)足國(guó)家電網(wǎng)Q/GDW 11008-2013低壓計(jì)量箱技術(shù)規(guī)范中門(mén)、開(kāi)關(guān)試驗(yàn)的試驗(yàn)儀器。
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外置斷路器綜合特性測(cè)試儀
外置斷路器綜合特性測(cè)試儀是根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)以及國(guó)家電網(wǎng)企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)規(guī)定以及用戶(hù)特殊要求而精心制作的一臺(tái)試驗(yàn)臺(tái)，是電能表外置斷路器進(jìn)行機(jī)械特性測(cè)試的理想產(chǎn)品。
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SIM卡通信協(xié)議測(cè)試儀
SIM卡通信協(xié)議測(cè)試儀支持ISO 7816, USB-IC, SWP/S-HDLC/HCI 協(xié)議
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RFID電子標(biāo)簽抗扭曲測(cè)試儀
RFID電子標(biāo)簽抗扭曲測(cè)試儀用于測(cè)試超高頻RFID電子標(biāo)簽的抗扭曲能力，完全滿(mǎn)足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)以及國(guó)家電網(wǎng)企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)電子標(biāo)簽得抗扭曲的測(cè)試要求。
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電壓跌落模擬器（690V）
電壓跌落模擬器（690V）是用于模擬低壓電網(wǎng)由于事故或大負(fù)載突然變化而引起的電網(wǎng)電壓跌落和短時(shí)中斷，或由于負(fù)載持續(xù)變化而引起的電網(wǎng)電壓變化，用以檢測(cè)電氣和電子設(shè)備對(duì)抗此類(lèi)干擾的能力。
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多路溫度巡檢儀
產(chǎn)品完全滿(mǎn)足Q/GDW 11008-2013低壓計(jì)量箱技術(shù)規(guī)范中溫升試驗(yàn)的要求，用于實(shí)時(shí)測(cè)量產(chǎn)品工作狀態(tài)產(chǎn)生的溫升。
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砂塵老化試驗(yàn)箱
砂塵老化試驗(yàn)箱由風(fēng)機(jī)推動(dòng)一定濃度的砂塵以一定的流速吹過(guò)試驗(yàn)樣品表面,從而評(píng)價(jià)這些試驗(yàn)樣品(設(shè)備)暴露于干砂或充滿(mǎn)塵土的大氣作用下防御塵埃微粒滲透效應(yīng)的能力、防御砂礫的磨蝕或阻塞效應(yīng)的能力及能否儲(chǔ)存和運(yùn)行的能力.產(chǎn)品能夠提供非層流狀的載塵的垂直循環(huán)氣流，并對(duì)其循環(huán)載塵氣流、開(kāi)、停、自動(dòng)定時(shí)或連續(xù)控制。
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智能量測(cè)開(kāi)關(guān)短路測(cè)試臺(tái)
本試驗(yàn)臺(tái)適用于250-630A智能量測(cè)開(kāi)關(guān)在高倍動(dòng)作電流倍數(shù)下進(jìn)行瞬時(shí)脫扣測(cè)試，能滿(mǎn)足國(guó)家電網(wǎng)智能量測(cè)開(kāi)關(guān)技術(shù)規(guī)范中過(guò)電流條件下動(dòng)作特性試驗(yàn)，以及GB/Z 22074-2008和 GB 14048.2-2008的試驗(yàn)要求。
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